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本发明涉及金属薄膜或金属箔等厚度为小尺寸材料的力学性能临界特征尺度 测试系统的建立,该系统提供对样品实施微弯曲实验的整套测试装置及具体测试 方法。整套测试装置包括基座、推进器、样品加载模具对模、芯轴等。推动推进 器,将上模具与下模具扣合,样品在加载对模中受到纯弯曲载荷的作用,直到被 测样品按照所接触的芯轴曲率发生完全弯曲变形,通过测算样品弯曲变形的曲率 半径可进一步获得材料的力学性能临界特征尺度值...
本实用新型涉及一种薄膜材料动态弯曲疲劳性能测试系统,解决常规测试系 统施加载荷精度不够、试样夹持方法不当等问题。该测试系统由电磁驱动部分、 试样夹持部分和测量与观察部分组成,电磁驱动部分由电源、永久磁铁、支撑弹 簧、线圈和驱动杆组成,电源与线圈电连接,线圈内侧设置永久磁铁;试样夹持 部分由基架和夹持在其上可自由调节的夹具组成,被测试样的一端固定在水平及 高度方向可自由调节的夹具上,夹具固定在基架上...
本实用新型涉及一种柔性电子基板上薄膜材料可靠性原位评价系统。该原位 评价系统的基座内侧相对设置有平动滑块、固定块,固定块与基座固定连接,平 动滑块与基座呈滑动连接,简支梁可动端安装于平动滑块上,简支梁固定端安装 于与平动滑块相对的固定块上,与平动滑块相连的简支梁可动端和与固定块相连 的简支梁固定端相对应,简支梁可动端和简支梁固定端之间安装试样,试样的一 端放置在与基座相连的简支梁固定端,试样的另一...
中国科学院金属研究所专利:金属薄膜/箔力学性能临界特征尺寸的测试系统和方法
本发明涉及对薄膜材料弯曲断裂性能测试装置和测试方法的建立,具体为一种柔性电子基板上具有微米至纳米厚度的单层或多层薄膜材料力学可靠性的原位评价系统及方法。该系统包括高精度螺旋测微器、平衡弹簧、平动滑块及简支梁固定端和简支梁可动端等,通过螺旋测微器向薄膜与柔性基体组成的复合梁施加精确可控的步进位移来实施简支梁弯曲实验,根据简支梁跨距和试样尺寸等参数及几何关系计算出与简支梁跨距对应的实时施加应变,结合原...
中国科学院金属研究所专利:薄膜材料电/热/力藕合作下性能测试系统及测试方法
中国科学院金属研究所专利:柔性电子基板上薄膜材料可靠性原位测试系统及方法
中国科学院微电子研究所专利:一种利用反射光谱测量单晶硅基太阳能表面薄膜的方法及系统
中国科学院国家纳米科学中心专利:一种测量平面型薄膜热电器件开路电压的系统
中国科学院国家纳米科学中心专利:探针台、有机薄膜器件的制备与测试集成系统及其方法
OLED是一种全新的半导体发光技术,具有低耗、环保、安全等特点,在照明和显示领域具有潜在的应用价值和广泛的市场前景。业界普遍认为OLED作为一种理想面光源是目前最有发展前景的照明技术之一,而寿命和稳定性是制约OLED照明产品发展的关键因素。大面积器件封装技术可以增长OLED照明器件的寿命,是OLED照明产业发展的关键技术。 中国科学院长春应用化学研究所马东阁课题组聚焦这一研究方向,从科研实际需...
近期,中国科学院上海微系统与信息技术研究所信息功能材料国家重点实验室SOI材料课题组在层数可控石墨烯薄膜制备方面取得新进展。课题组设计了Ni/Cu体系,并利用离子注入技术引入碳源,通过精确控制注入碳的剂量,成功实现了对石墨烯层数的调控。相关研究成果以Synthesis of Layer-Tunable Graphene:A Combined Kinetic Implantation and The...
中国科学院力学研究所专利:一种可变温度任意路路径薄膜粘附力测量系统
本发明公开了一种可预加应力的薄膜接触角测量系统,包括:夹膜单元,所述夹膜单元为2个以上,用于夹持待测薄膜;径向移动单元,用于在所述待测薄膜的径向方向移动所述夹膜单元;应力检测单元,用于测量所述夹膜单元在夹持待测薄膜并沿径向移动过程中所受到的拉力,从而测得对所述待测薄膜施加的预应力大小。本发明通过径向移动单元在径向方向移动夹膜单元,可以使2个以上的夹膜单元在径向方向同时移动,并通过设置在夹膜单元上的...
发布人:汪清 发表日期:2006-1-4 2005年12月31日,我所稀薄气体课题组承担的科研装备研制项目“真空薄膜沉积系统”通过验收。 项目负责人樊菁研究员详细介绍了“真空薄膜沉积系统” 的研制内容、完成情况、性能指标以及经费使用情况,与会专家查阅了“项目合同书”、“测试报告”、“经费使用汇总表”...

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