搜索结果: 1-14 共查到“核科学技术 HPGe”相关记录14条 . 查询时间(0.109 秒)
基于HPGe谱仪的气溶胶滤膜考核样中总α或总β放射性活度估算
HPGe谱仪 无源效率刻度 核素分析 总α和β考核样
2022/3/21
在2020年生态环境部辐射环境监测质量考核中，针对气溶胶滤膜中总放射性考核样品，使用无源效率刻度的高纯锗（HPGe）γ谱仪，通过核素识别和定量测量，间接估算出考核样品中总α和总β放射性活度，并利用气溶胶滤膜γ多核素标准样品和自制气溶胶滤膜薄参考样品，验证了分析方法的可行性。考核分析结果显示：总α活度考核样的测量值为61.2Bq，总β活度考核样的测量值为73.2Bq，其不确定度分别为Uα=6.6%（...
点源效率函数确定大体积样品的HPGe探测器γ射线峰效率
点源效率函数 全能峰效率 体源全能峰效率
2011/8/18
利用HPGe g谱仪，用241Am、137Cs、60Co混合点源分别测量样品在5个高度上、不同剖面、不同位置的全能峰效率，通过最小二乘拟合确定了点源峰效率函数的拟合参数，用该点源效率函数对f75 mm×25 mm的土壤样品的半径和高度数值积分计算可得到59.54、661.66、1 173.2、1 332.5 keV γ射线全能峰效率。将点源效率函数数值积分计算的体源全能峰效率与实测标准体源全能峰效...
HPGe测量气体裂变产物中微量77Kr的可行性分析
77Kr 气体裂变产物 HPGe MCNP
2011/8/24
针对气体裂变产物中微量77Kr的测量问题，利用MCNP模拟计算了气体裂变产物对77Kr的影响。结果表明，HPGe不可能直接测量气体样品中的77Kr，但可通过测量其子体77Br来推算77Kr。
用强源干扰法实验研究了几套就地HPGeγ谱仪系统的死时间修正问题，得到了在不同百分死时间下的修正因子，拟合获得了修正函数，并与谱仪系统的自动修正结果进行了比较分析。结果显示：在实验所控制的死时间范围内，死时间与修正因子间呈线性关系；谱仪系统自动修正结果与实验修正值间的最大相对偏差小于4.4%。这说明，在1.13%～52.95%死时间范围内，这几套谱仪系统的死时间自动修正结果是准确的，也表明现代γ谱...
MCNP程序在HPGe探测器马鞍形样品盒最佳选择中的应用
MCNP程序 探测效率
2009/12/3
在HPGe探测器测量环境样品放射性时，探测效率越高，测量时间越短，谱仪的利用率也越高。对一定体积的体源样品，几何形状对探测效率有较大影响。本文利用MCNP程序对同体积的不同马鞍形环境样品进行了模拟，寻找出了最佳马鞍形样品形状，并进行了实验验证。模拟和实验结果表明，最佳马鞍形样品与目前常用的圆柱形样品相比，其探测效率可提高1倍以上。
用于HPGe探测器效率标定的模拟气体刻度源的研制
模拟气体刻度源 活度 峰效率 HPGe探测器
2010/9/17
准确校准测量系统的探测效率是HPGe探测器γ能谱法测量放射性气体活度的关键，放射性气体的半衰期一般较短且样品制备过程复杂，这些客观因素给效率校准工作带来很多不便。本工作提出了模拟气体刻度源的制备方案并进行了实验研究，所制备的模拟刻度源最小基质密度为0.043g/cm3，自吸收的影响小于0.5%。通过与效率参考值的比较表明，模拟气体刻度源的制备方案简单可行，所制备的模拟气体刻度源可代替气体标准源实现...
测定了点源、面源和盘状源在距HPGe探测器表面不同距离上的峰总比，研究了探测器的峰总比随样品形状和测量几何条件的变化规律，验证了同一探测器不同测量条件下峰总比基本不变的特性，给出了所使用HPGeγ谱仪的峰总比曲线。
文章叙述了极大体积(～220cm~3)同轴HPGe探测器的研制及其性能。分析了各种因素对探测器系统分辨率的影响。探测器对~(60)Co的1.33MeVγ射线,能量分辨率 FWHM=2.30±0.02keV,相对效率η=44.56％,峰对称性FW(1/10M)/FWHM=1.90;对2.60MeVγ射线,FWHM=3.10 keV。
MeV能区HPGeγ探测器本征效率和γ剂量的确定
高纯锗探测器 γ本征效率 mev能区γ射线 γ空气比释动量率
2008/12/18
使用多线γ放射源、氯化钠热中子俘获γ射线源、￣（１９）Ｆ（ｐ，αγ）源以及镍热中子俘获γ源来得到全能峰、单逃逸峰和双逃逸峰在７００－９０００ｋｅＶ能区范围内探测器本征效率值随能量变化的曲线。所得结果用来确定镍热中子俘获γ场，￣（１９）Ｆ（ｐ，αγ）反应γ场及反应堆重水循环系统上￣（１６）Ｏ（ｎ，ｐ）￣（１６）Ｎ反应γ场的γ剂量，并将其与用电离室测试的结果进行比较。
P型同轴HPGe探测器的进展
HPGe 同轴探测器 高分辨 新工艺
2008/12/18
在原有工作的基础上,我们又研制了高分辨探测器3~#和4~#,其体积分别为30 cm~3和88 cm~3,对~(60)Co的1.33 MeV之γ射线的能量分辨率分别为1.81 keV和2.29 keV。 本文介绍在研制高分辨P型高纯锗同轴探测器中所取得的新进展。
HPGe探测器的效率曲面研究
效率曲面 真符合校正 面源 点源
2008/12/17
研究了高效率HPGe探测器测量近距离面源情况下的效率曲面。通过测量 8种单能γ射线核素点源在探测器表面各点的相对效率及其面源效率 ,拟合得到了HPGe探测器的峰效率曲面和总效率曲面的解析表达式。使用该曲面计算的60 Co、152 Eu的真符合校正因子与实验测量结果基本一致。
HPGe探测器效率刻度的新处理方法
效率刻度 HPGeγ线探测器 迭代最小二乘法
2008/12/17
把迭代最小二乘法用于HPGe(或Ge(Li))探测器全能峰效率刻度中并与双线法和引进附加参数的最小二乘法作了比较,新的方法具有精度高和易作系统误差校验的优点。
同轴型HPGe探测器研究成功
研究成功 同轴型HPGe探测器
2008/12/17
采用比利时Hoboken公司生产的HPGe单晶,我们研究成功了第一套同轴型HPGe探测器。经初步测试,其主要性能如下:探测器为双开端同轴;灵敏体积34cm~3(单晶?42mm×25mm,孔心直径8mm。);在1050伏偏压下,对1.33 MeVγ射线,能量分辨率为2.30 keV,脉冲产生器宽度为1.39 keV,
本文介绍了用γ能谱法精确测定浅燃耗钚样品的同位素丰度和~(241)Am相对含量的方法和实验结果。在38—60 keV钚的低能γ射线和203—208 keV两个能区中获取数据。选择不同同位素能量相近的γ射线对计算同位素丰度比,并对这些γ射线对的小的能量差别进行了仔细的效率修正,~(238)Pu,~(239)Pu,~(240)Pu,~(241)Pu丰度和~(241)Am相对含量的精度分别为±4.1％...